論文種別	原著(症例報告除く)
言語種別	英語
査読の有無	査読なし
表題	X-ray Intensity Distribution around the Reciprocal Lattice Points for Porous Silicon Produced by Electrochemical Anodization
掲載誌名	正式名：Activity Report Photon Factory
巻・号・頁	10,pp.333
著者・共著者	O. Nittono, K. Takemoto, H. Yamanashi and H. Sugiyama
発行年月	1992