論文種別	原著(症例報告除く)
言語種別	英語
査読の有無	査読なし
表題	X-ray Characterization of Porous Silicon Layer Formed on N-Type Silicon Substrate
掲載誌名	正式名：Activity Report Photon Factory
巻・号・頁	11,pp.306
著者・共著者	O. Nittono, K. Takemoto and H. Sugiyama
発行年月	1993