論文種別	原著(症例報告除く)
言語種別	英語
査読の有無	査読あり
表題	Depth profiling of porous silicon surface by means of heavy-ion TOF ERDA
掲載誌名	正式名：Nuclear Instruments and Methods 略　 称：Nucl. Instr. and Meth
巻・号・頁	85(1-2),pp.226-229
著者・共著者	E. Aarai, A. Zounek, M. Sekino, K. Takemoto and O. Nittono
発行年月	1994/03