論文種別	原著(症例報告除く)
言語種別	英語
査読の有無	その他(不明)
表題	Common features of n-type and p-type porous silicon layers studied by x-ray multi-crystal diffractometry
掲載誌名	正式名：Photon Factory Activity Report
巻・号・頁	12,pp.274
著者・共著者	O Nittono, K. Takemoto and H. SUGIYAMA
発行年月	1994