論文種別	その他
言語種別
査読の有無	査読あり
表題	Transmission X-ray Microscopy with 60 nm Resolution Installed at Ritsumeikan Synchrotron Radiation Center
掲載誌名	正式名：Japanese Journal of Applied Physics 略　 称：Jpn J Appl Phys ISSNコード：0021-4922
巻・号・頁	38(1A),274-278
著者・共著者	A. Hirai, K. Takemoto, K. Nishino, B. Niemann, M. Hettwer, D. Rudolph, E. Anderson, D. Attwood, D. Kern, Y. Nakayama, and H. Kihara
発行年月	1999/01