| 言語種別 | 英語 |
| 種別 | 部分執筆 |
| 表題 | Transmission X-ray microscopy with 50 nm resolution in Ritsumeikan Synchrotron Radiation Center |
| 書名 | AIP Conference proceedings (X-ray microscopy, Proceedings of the Sixth International Conference) |
| 編者名 | W. Meyer-Ilse, T. Warwick and D. Attwood |
| 版・巻・頁 | 507,pp.446-451 |
| 出版社 | American Institute of physics |
| 出版地 (都市, 国名) | Melville, New York, USA |
| 著者・共著者 | K. Takemoto, A. Hirai, B. Niemann, K. Nishino, M. Hettwer, D. Rudolph, E. Anderson, D. Attwood, D.P. Kern, Y. Nakayama and H. Kihara |
| 発行年月 | 2000/05 |