| 言語種別 | 英語 |
| 発表タイトル | Transmission X-ray Microscopy with 50nm Resolution in Ritsumeikan Synchrotron Radiation Center |
| 会議名 | VIth International Conference on X-Ray Microscopy |
| 学会区分 | 国際学会及び海外の学会 |
| 発表形式 | ポスター掲示 |
| 発表者・共同発表者 | K. Takemoto, A. Hirai, B. Niemann, K. Nishino, M. Hettwer, D. Rudolph, E. Anderson, D. Attwood, D.P. Kern, Y. Nakayama and H. Kihara |
| 発表年月日 | 1999/08 |
| 開催地 （都市, 国名） |
Berkeley, USA |
| 学会抄録 | AIP Conference proceedings (X-ray microscopy, Proceedings of the Sixth International Conference) 507 446-451 |